Sensofar新型高精度3D測量系統S wide

產品簡介

Sensofar新型高精度3D測量系統S wide ，適用于快速測量大樣品區域，測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的高分辨率測量儀器的所有優點。一鍵式采集功能，易于使用。

產品型號：

更新時間：2025-05-22

廠商性質：代理商

訪問量：934

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PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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Sensofar 3D光學輪廓儀在PCB表面測量中的應用

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共聚焦白光干涉儀在半導體行業中的應用與挑戰

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　　Sensofar新型高精度3D測量系統S wide

　　一、應用領域：

　　主要應用于，大面積 3D 光學測量系統、先進制造業、考古學與古生物學、消費類電子產品、醫療設備、模塑、光學、鐘表業等行業。

　　二、產品優勢：

　　1.亞微米高度可重復性，可擴展整個區域內

Sensofar新型高精度3D測量系統S wide

　　2. 無需 Z 軸掃描即可測量最高 40mm 的單次測量高度

　　3.具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量

Sensofar新型高精度3D測量系統S wide

　　4.可追溯性：采用ISO 標準

　　Sensofar新型高精度3D測量系統S wide 每一款 S wide 產品都是為提供準確且可追溯的測量結果而制造的。系統根據 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標準進行校準。

　　5.與 3D CAD 模型的形狀偏差：提供幾何差異和公差測量

Sensofar新型高精度3D測量系統S wide

　　6. 表面紋理測量儀器的校準

　　我們的所有系統精心制造，提供準確、可追溯的測量。系統按照符合ISO 25178第 7 部分關于下列參數的指南的可追溯標準進行校準：Z 放大系數、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。

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