西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide

產品簡介

西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide是專用系統，適用于快速測量大樣品區域，測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的高分辨率測量儀器的所有優點。一鍵式采集功能，易于使用。

產品型號：

更新時間：2025-05-22

廠商性質：代理商

訪問量：740

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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Sensofar 3D光學輪廓儀在PCB表面測量中的應用

高分子切片機在電鏡樣品制備中的關鍵作用

Sensofar共聚焦白光干涉儀|用于測量電池的表面紋理和粗糙度等

共聚焦白光干涉儀在半導體行業中的應用與挑戰

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西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide 是專用系統，適用于快速測量大樣品區域，測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的高分辨率測量儀器的所有優點。一鍵式采集功能，易于使用。

一、應用領域：大面積 3D 光學測量系統

先進制造業
考古學與古生物學
消費類電子產品
醫療設備
模塑
光學
鐘表業

二、產品優勢

1. 亞微米高度可重復性，可擴展整個區域內

西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide

2. 無需 Z 軸掃描即可測量最高 40mm 的單次測量高度

西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide

3. 具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量

西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide

4. 可追溯性：采用ISO 標準

每一款 西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide 產品都是為提供準確且可追溯的測量結果而制造的。系統根據 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標準進行校準。

西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide

5. 與 3D CAD 模型的形狀偏差：提供幾何差異和公差測量

西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide

6. 表面紋理測量儀器的校準

我們的所有系統精心制造，提供準確、可追溯的測量。系統按照符合ISO 25178第 7 部分關于下列參數的指南的可追溯標準進行校準：Z 放大系數、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。

西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide

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西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide

一、應用領域：大面積 3D 光學測量系統

二、產品優勢

1. 亞微米高度可重復性，可擴展整個區域內

2. 無需 Z 軸掃描即可測量最高 40mm 的單次測量高度

3. 具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量

4. 可追溯性：采用ISO 標準

5. 與 3D CAD 模型的形狀偏差：提供幾何差異和公差測量

6. 表面紋理測量儀器的校準

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二、產品優勢

3. 具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量