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澤攸 ZEM15:高校教學顯微觀察優選

產品簡介

澤攸 ZEM15:高校教學顯微觀察優選
在高?;A教學與入門級科研實驗中,一款操作便捷、性能可靠的臺式掃描電子顯微鏡(SEM)能為學生與科研人員提供直觀的微觀觀察體驗。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15,憑借貼合教學場景的設計與實用性能,成為眾多高校實驗室的常用設備。

產品型號:
更新時間:2025-10-19
廠商性質:代理商
訪問量:125
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澤攸 ZEM15:高校教學顯微觀察優選


在高?;A教學與入門級科研實驗中,一款操作便捷、性能可靠的臺式掃描電子顯微鏡(SEM)能為學生與科研人員提供直觀的微觀觀察體驗。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15,憑借貼合教學場景的設計與實用性能,成為眾多高校實驗室的常用設備。
產品細節
ZEM15 采用緊湊臺式設計,機身尺寸僅 650mm×500mm×800mm,重量約 50kg,無需專用實驗室,普通教室或小型實驗室即可輕松安置。操作界面采用觸控式設計,搭配圖文并茂的引導菜單,學生可通過簡單培訓快速掌握基本操作,如樣品加載、放大倍數調節、圖像保存等。樣品室為側開式結構,最大可容納直徑 50mm、高度 30mm 的樣品,配備簡易樣品臺,支持 X/Y 軸手動微調,方便定位觀察區域。設備正面設有高清顯示屏,可實時顯示微觀圖像,同時支持 HDMI 接口外接投影儀,便于教學演示時全班共同觀察。此外,機身側面預留 USB 接口,可直接導出圖像數據,無需復雜的數據分析軟件,滿足教學報告撰寫需求。
產品性能
ZEM15 的分辨率能滿足基礎微觀觀察需求,二次電子圖像分辨率可達 3.0nm(30kV),能清晰呈現金屬、半導體、生物樣品等的表面微觀結構,如金屬晶粒、細胞形態、材料表面缺陷等。設備加速電壓范圍為 0.5 - 15kV,可根據樣品導電性選擇合適電壓,避免絕緣樣品充電問題;放大倍數覆蓋 20 - 100000 倍,從低倍宏觀觀察到高倍細節分析均可實現。在圖像采集方面,支持實時掃描與靜態拍照,圖像幀率可達 15 幀 / 秒,能動態觀察樣品表面特征,且多次采集的圖像重復性較好,適合教學中對比不同樣品的微觀差異。此外,設備具備自動聚焦與自動亮度 / 對比度調節功能,減少人工操作誤差,降低學生操作難度。
用材講究
為平衡成本與耐用性,ZEM15 的外殼采用高強度工程塑料,表面經過耐磨處理,能承受教學環境中頻繁的觸碰與清潔。樣品室內部采用不銹鋼材質,具備一定的抗腐蝕能力,可應對生物樣品固定液、金屬樣品清洗溶劑等常見化學試劑的輕微污染。電子光學系統的核心部件 —— 電子槍選用燈絲壽命較長的鎢燈絲,使用壽命可達 100 - 200 小時,降低教學過程中的耗材更換頻率與成本。鏡頭組件采用高純度玻璃與金屬鍍膜,減少電子散射,保障圖像清晰度;內部電路采用模塊化設計,若某一部件故障,可單獨更換,降低維修難度與成本。
參數詳情
參數項
具體數值
分辨率
二次電子圖像:3.0nm(30kV),背散射電子圖像:5.0nm(30kV)
加速電壓
0.5 - 15kV,步長 0.1kV
放大倍數
20 - 100000 倍,連續可調
樣品室尺寸
最大樣品直徑 50mm,最大樣品高度 30mm
樣品臺移動
X/Y 軸手動微調,行程 10mm×10mm
電子槍類型
鎢燈絲電子槍
探測器
內置二次電子探測器、背散射電子探測器
圖像輸出
1200×900 像素,支持 BMP、JPG 格式保存
數據接口
USB 3.0、HDMI
電源要求
220V±10%,50Hz,功率≤1000W
工作環境
溫度 18 - 25℃,相對濕度 30% - 60%(無冷凝)
廣泛用途
在高校材料科學基礎實驗課程中,ZEM15 可用于觀察金屬材料的金相組織、聚合物的表面形貌,幫助學生理解材料結構與性能的關系;在生物學實驗中,能觀察動植物細胞的冷凍干燥樣品、微生物的形態特征,輔助講解細胞結構與生命活動規律;在地質學教學中,可分析巖石薄片、礦物顆粒的微觀結構,讓學生直觀認識地質樣品的組成與形成過程;此外,在職業教育的機電專業實訓中,還能用于檢測機械零件的表面磨損、微小缺陷,幫助學生理解加工工藝對零件質量的影響。
使用說明
使用前,需將 ZEM15 放置在水平、無明顯振動的工作臺上,遠離強磁場(如大型電機)與強電場(如高壓設備),避免陽光直射。打開設備電源,進行預熱,預熱時間建議不少于 30 分鐘,期間檢查真空系統是否正常(設備內置小型真空機組,無需外接真空設備)。準備樣品時,需確保樣品干燥、清潔,導電性差的樣品(如塑料、陶瓷)需進行噴金處理(設備可搭配小型噴金儀使用);將樣品固定在樣品臺上,通過側開式樣品室門放入設備,關閉樣品室后啟動抽真空程序,待真空度達到要求(真空指示燈常亮)后開始觀察。通過觸控屏選擇加速電壓、放大倍數,啟動圖像掃描,調節聚焦、亮度與對比度,直至圖像清晰;如需切換觀察區域,可暫停掃描,手動微調樣品臺位置后重新掃描。觀察完成后,保存圖像數據至 U 盤,關閉掃描程序,待樣品室放氣后取出樣品。實驗結束后,關閉設備電源,清潔樣品室內部(可用無塵布擦拭樣品臺),定期(建議每學期)檢查電子槍燈絲狀態,若燈絲損耗嚴重,及時更換;每半年請專業人員對真空系統進行維護,確保設備長期穩定運行。

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技術參數




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