在材料科學、新能源開發及生物醫藥等領域，微觀結構的分析需求日益增長。澤攸科技推出的ZEM20臺式掃描電子顯微鏡（SEM），憑借其緊湊設計、多功能集成與便捷操作，成為實驗室與工業場景中的“微觀觀測工具"。

一、核心性能：從納米級形貌到成分分析

ZEM20的加速電壓范圍為3kV至20kV，支持1kV步進調節，最高放大倍數達360,000倍，分辨率優于4nm（20kV下）。其電子槍采用預對中鎢燈絲設計，搭配一體式聚光鏡，無需手動調節物鏡光闌，顯著降低操作門檻。設備標配五軸全自動樣品臺（X/Y/Z/R/T軸），行程范圍覆蓋X軸90mm、Y軸50mm、Z軸32mm，旋轉角度360°，傾斜角度-10°至90°，可靈活適配復雜樣品的多角度觀測需求。

二、創新設計：兼顧效率與拓展性

1. 真空系統：真空分隔技術將電子槍與樣品倉獨立抽真空，換樣時間縮短至30秒內，大幅提升實驗效率。設備支持高真空（抽真空時間＜30秒）與低真空（1-100Pa自動控制）雙模式，無需噴金即可直接觀察弱導電樣品（如聚合物、生物組織），減少樣品制備流程。

2. 樣品艙：超大樣品艙尺寸達185mm×176mm×125mm，兼容兩軸（120mm×100mm×75mm）與五軸樣品臺，可容納大型塊狀樣品或異形結構件。艙內配備高清攝像頭與光學CCD導航系統，支持實時監控樣品位置與狀態。

3. 探測器組合：集成二次電子探測器（SE）、四分割背散射電子探測器（BSE）及集成式能譜儀（EDS），支持SE+BSE模式同步采集與圖像疊加，可同時獲取樣品表面形貌與成分分布信息。

三、用材與參數：細節彰顯品質

• 燈絲材料：預對中鎢燈絲為標準配置，可選配LaB6燈絲以提升亮度與壽命。

• 信號采集：帶寬高達10MHz，支持視頻模式（512×512像素實時顯示）、快速模式（＜3秒掃描）與慢掃模式（＜40秒獲取2048×2048像素高分辨率圖像）。

• 圖像處理：軟件內置自動亮度對比度、自動聚焦、自動消像散及大圖拼接功能，支持BMP/TIFF/JPEG/PNG格式輸出。

• 環境適應性：主機尺寸650mm×370mm×642mm，機械泵454mm×165mm×252mm，無需專用減震臺，常規市電（AC 220V, 50Hz, 1kW）即可運行。

四、應用場景：從實驗室到生產線

ZEM20適用于金屬材料裂紋分析、半導體器件失效檢測、鋰電池電極微觀結構表征、生物細胞形貌觀察等領域。例如，在鋰電行業中，其低真空模式可直接觀察未噴金的電極材料，結合EDS能譜分析，可快速定位鋰枝晶生長位置與成分變化；在半導體領域，五軸樣品臺支持晶圓邊緣缺陷的多角度觀測，助力工藝優化。

五、操作指南：三步開啟微觀探索

1. 樣品準備：非導電樣品需噴金（厚度5-10nm），導電膠固定樣品后放入樣品艙。

2. 參數設置：通過鼠標選擇高/低真空模式，調節加速電壓（如15kV）與光斑直徑（粗/中/細），啟用自適應亮度對比度。

3. 圖像采集：低倍下定位目標區域，切換至高倍模式后微調聚焦與消像散，選擇合適幀數（如5幀平均）保存圖像。

ZEM20以“小體積、大功能"重新定義臺式掃描電鏡，為科研與工業用戶提供高效、靈活的微觀分析解決方案。