澤攸ZEM18臺式掃描電鏡并非追求的參數，而是在性能、體積、成本和操作難度之間尋求平衡，旨在滿足日常檢測中大部分常見的微觀成像需求。其表現能夠應對科研、質檢和教育中的多種實際應用場景。

ZEM18的性能得益于其集成的電子光學系統和信號探測系統。其采用的發射源類型（如CeB6或鎢燈絲）在亮度、壽命和成本上取得了平衡，能提供滿足觀察需求的束流。光學設計有助于減小像差，從而在較寬的放大倍數范圍內獲得較為清晰的圖像。背散射電子（BSE）和二次電子（SE）探測器通常為標準配置，BSE信號可用于觀察成分襯度，SE信號則用于觀察表面形貌襯度，為用戶提供了不同的信息維度。

其性能參數為其應用提供了基礎：

• •成像模式：支持二次電子成像和背散射電子成像。

• 
  

• •樣品適應性：可應對金屬、陶瓷、半導體、聚合物等多種固體樣品。

• 
  

• •自動化功能：通常具備自動聚焦、自動亮度對比度調節和圖像拼接等功能，簡化操作。

• 
  

• •軟件分析：配套軟件可進行基本的尺寸測量、標注和圖像導出，滿足基礎分析需求。

ZEM18的應用場景具體而廣泛：

• •失效分析：在電子制造業，快速查找PCB板的焊接缺陷、線路斷路或異物污染。

• 
  

• •材料表征：觀察金屬的晶粒尺寸、斷口形貌，或復合材料的填充物分布情況。

• 
  

• •納米材料：對碳納米管、石墨烯、納米粉末等材料的形貌和團聚狀態進行表征。

• 
  

• •教學演示：在課堂上直觀展示昆蟲、花粉、礦物等樣品的精細結構，激發學生興趣。

在使用說明中，其“開機-放樣-抽真空-觀察"的流程大大簡化了傳統電鏡的操作。用戶經過短期培訓即可獨立操作，進行日常的樣品觀察和圖像采集。對于需要頻繁、快速獲取樣品微觀圖像而又無需分辨率的用戶來說，ZEM18縮短了從樣品到結果的等待時間，提升了工作效率。

對于尋求一款能夠融入日常 workflow、用于快速初步篩查和常規觀察的用戶，澤攸ZEM18展現出了其應用價值。