Sensofar 光學輪廓儀：應對復雜測量需求

產品簡介

Sensofar 光學輪廓儀：應對復雜測量需求
S neox 憑借靈活的配置與穩定的性能，能應對多種復雜測量場景，為特殊樣品與環境下的檢測提供支持。

產品型號：S neox

更新時間：2025-10-23

廠商性質：代理商

訪問量：65

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Sensofar 光學輪廓儀：應對復雜測量需求

S neox 憑借靈活的配置與穩定的性能，能應對多種復雜測量場景，為特殊樣品與環境下的檢測提供支持。在高溫樣品測量場景中，設備可搭配高溫樣品臺附件，該樣品臺采用陶瓷加熱元件，加熱溫度范圍為室溫至 300℃，溫度控制精度 ±1℃，加熱過程中樣品臺表面溫度均勻性誤差≤2℃，適用于金屬材料高溫形變、高分子材料熱膨脹系數測量等需求。高溫樣品臺與設備主體采用隔熱設計，避免高溫傳導至光學系統，保障測量精度。

Sensofar 光學輪廓儀：應對復雜測量需求

低溫環境測量方面，低溫樣品艙附件能將樣品溫度控制在 -40℃ 至室溫范圍，艙體采用雙層真空設計，有效隔絕外部熱量傳入，內部配備溫度傳感器與制冷系統，溫度調節響應速度快，從室溫降至 -40℃ 僅需 30 分鐘。該附件適用于冷凍生物樣品、低溫超導材料等特殊樣品的表面形貌檢測，如檢測冷凍細胞的三維結構，避免常溫下細胞變形影響測量結果。

在強電磁干擾環境中，S neox 可通過電磁屏蔽罩附件提升抗干擾能力，屏蔽罩采用多層金屬屏蔽結構，對 10kHz-1GHz 頻率范圍內的電磁干擾衰減量達 60dB 以上，確保設備在電子廠、實驗室等存在強電磁輻射的環境中仍能穩定工作。針對透明樣品測量，設備配備偏振光模塊，通過調節偏振方向與強度，增強透明樣品表面的對比度，清晰呈現樣品的微觀結構，如測量玻璃表面的微裂紋與劃痕，解決透明樣品成像困難的問題。

Sensofar 光學輪廓儀：應對復雜測量需求

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