澤攸臺式掃描電鏡結構解析與核心組件

產品簡介

澤攸臺式掃描電鏡結構解析與核心組件
作為一款適用于實驗室及工業場景的臺式掃描電子顯微鏡（SEM），ZEM20的設計兼顧緊湊性與功能性。

產品型號：ZEM20

更新時間：2025-10-23

廠商性質：代理商

訪問量：67

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臺式電鏡&臺階儀&原位分析

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澤攸臺式掃描電鏡結構解析與核心組件

作為一款適用于實驗室及工業場景的臺式掃描電子顯微鏡（SEM），ZEM20的設計兼顧緊湊性與功能性。其整體結構采用模塊化布局，主要由電子光學系統、真空系統、信號探測與處理系統及操作控制單元四大部分構成，各組件協同工作以實現高質量成像與分析。

電子光學系統是ZEM20的核心。設備搭載熱發射電子槍，通過鎢燈絲加熱發射電子，經聚光鏡、物鏡兩級電磁透鏡聚焦，形成納米級電子束掃描樣品表面。物鏡采用無氧銅材質繞制線圈，減少磁場畸變，提升電子束斑穩定性。值得關注的是，其電子束流可通過軟件調節（范圍5pA-10nA），適配不同導電性樣品的成像需求——低電流適用于脆弱樣品（如生物切片），高電流則用于增強信號強度。

真空系統采用雙級設計，前級為機械泵快速預抽至10?1Pa，后級可選配分子泵進一步提升至10??Pa（高真空模式）或保持10Pa（低真空模式）。低真空模式無需噴金處理，可直接觀察含水或易荷電的非導電樣品（如植物葉片、聚合物材料），擴展了應用場景。真空腔體采用304不銹鋼材質，內壁經電解拋光處理，降低氣體吸附，縮短抽真空時間（高真空模式下約5分鐘）。

信號探測系統配備二次電子探測器（SE）與背散射電子探測器（BSE）。SE探測器通過Everhart-Thornley柵網收集樣品表面二次電子，側重形貌觀察；BSE探測器采用固態硅漂移技術，對成分差異敏感，可區分樣品中不同元素區域（如金屬合金中的相分布）。兩種探測器均支持軟件切換，用戶可根據需求選擇成像模式。

操作控制單元集成15英寸觸控屏，界面直觀顯示真空狀態、電子束參數及實時圖像。設備支持外接電腦控制，兼容Windows系統，便于數據存儲與后期分析。接口方面，預留USB、HDMI及網口，可連接相機、打印機或實驗室信息管理系統（LIMS）。

ZEM20的型號根據配置差異分為基礎版（ZEM20-B）與專業版（ZEM20-P）?；A版側重教學與常規檢測，標配SE探測器；專業版增加BSE探測器、自動聚焦功能及更大的樣品倉（可容納直徑30mm樣品），適合科研級需求。

從結構設計可見，ZEM20通過優化電子光學路徑、靈活的真空模式及多探測器配置，在緊湊機身內實現了功能的平衡。其核心組件的選材（如無氧銅線圈、304不銹鋼腔體）與模塊化布局，既保證了成像穩定性，也為后續升級預留了空間

澤攸臺式掃描電鏡結構解析與核心組件

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