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臺式電鏡&臺階儀&原位分析
澤攸臺式掃描電鏡
臺階儀-澤攸臺式掃描電鏡
臺階儀-澤攸臺式掃描電鏡實際操作中掌握一些技巧能顯著提升工作效率。對于表面粗糙的樣品,建議先從較低倍數開始觀察,找到特征區域后再提高倍數。調節像散時,可選擇樣品上的孔洞或邊緣作為參考,交替調節X、Y方向直至圖像在各個方向都清晰。
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臺階儀-澤攸臺式掃描電鏡
實際操作中掌握一些技巧能顯著提升工作效率。對于表面粗糙的樣品,建議先從較低倍數開始觀察,找到特征區域后再提高倍數。調節像散時,可選擇樣品上的孔洞或邊緣作為參考,交替調節X、Y方向直至圖像在各個方向都清晰。
在觀察非導電樣品時,可采用多種方法減輕充電效應。除了使用低真空模式或減速模式外,還可適當降低加速電壓、減小束流、縮短像素停留時間。對于特別敏感的樣品,可采用快速掃描模式,避免電子束長時間照射同一點位。
案例研究顯示,某研究組使用ZEM20成功觀察了鋰電池電極材料的微觀結構。通過優化參數設置,清晰顯示了活性物質顆粒的尺寸分布和孔隙結構,為改進電池性能提供了重要參考。另一個案例中,研究人員利用ZEM20的背散射電子模式,準確區分了合金中的不同相組成,結合能譜分析獲得了成分信息。
特殊樣品制備方面,生物樣品通常需要經過固定、脫水、干燥等步驟。采用臨界點干燥法能較好保持樣品原始形貌。對于易碎樣品,可通過離子銑削或超薄切片獲得平整觀察面。這些技巧都能幫助用戶獲得更高質量的圖像。臺階儀-澤攸臺式掃描電鏡
使用ZEM20進行實驗時,技巧與案例可提升效率。例如,觀察蠕變孔洞的航空合金時,先通過導航相機定位區域,調節工作距離至5–10mm,采用BSE探測器獲取成分襯度。對于鼠腦切片等生物樣品,利用低角度BSE探測器與樣品臺減速技術,在320ns駐點時間內可獲得較高信噪比,清晰顯示細胞器。操作中,建議從低倍開始尋找特征點,逐步放大至目標倍數的2–3倍,調節焦距與像散后拍攝。圖像保存宜選用TIFF格式以保留原始數據。案例顯示,ZEM20曾用于無人值守拍攝,連續7小時拼接大面積圖像,展現了其穩定性和自動化潛力。臺階儀-澤攸臺式掃描電鏡