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技術文章
TECHNICAL ARTICLESSensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術共聚焦輪廓儀專為測量光滑表面到極粗糙表面而開發。共聚焦輪廓提供更佳的橫向分辨率，可達0.15μm線條和空間，空間采樣可減少到0.01μm，這是關鍵尺寸測量的理想選擇。背景Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術共聚焦技術能夠測量表面高度，將常規圖像轉換成光學剖面，其中，物鏡焦深范圍內的那些區域的信號被保留，改善了圖像對比度、橫向分辨率和系統噪聲。光學方案對于3D成像，必須從相機的所有像素獲取數據。這意味著：重新構建共聚焦圖像。為...
Sensofar共聚焦白光干涉儀|白光干涉技術Sensofar共聚焦白光干涉儀為了測量非常光滑的表面到中等粗糙表面的表面高度，開發了干涉技術，可在任何放大倍率下實現相同的系統噪聲。對于PSI，它可實現優于0.01nm的系統噪聲。背景干涉工作原理干涉技術的工作原理是：將光分成光學傳播路徑不同的兩個光束，然后再合并，從而產生干涉。干涉物鏡允許顯微鏡作為干涉儀而工作；焦點對準后，可在樣本上觀察到條紋。光學方案PSI的光學方案與FV具有相同配置，但是現在采用干涉物鏡而不是明場。為了獲...
Sensofar共聚焦白光干涉儀|光譜反射技術光譜反射能快速、精確、無損地測量薄膜，且無需制備任何樣本。背景薄膜透明層沉積在表面上時，其反射率會變化。該系統獲取可見范圍內樣本的反射光譜，并與軟件計算的模擬光譜進行比較，對層厚進行修改，直到找到匹配的厚度。對于薄膜，厚度與光波長類似，我們沿著光譜獲得波浪狀的反射率響應。主要特征從50nm到1.5μm厚的透明薄膜可在不到5秒的時間內測得從50nm到1.5μm厚的透明薄膜不到5秒內采集一個物鏡可覆蓋整個范圍不同光斑大小(3.5μm到...
只需幾秒鐘即可完成圖像采集、記錄和共享徠卡顯微系統公司推出的新型FLEXACAMC1顯微鏡攝像頭能夠讓用戶更加省時省力地采集、記錄和共享圖像。它將顯微鏡轉變成無需計算機的獨立式數字成像工作站。用戶只需將攝像頭連接到所需的觀察設備和網絡，即可開始進行日常成像工作。FLEXACAMC1攝像頭集成了屏幕信息顯示(OSD)功能，用戶可以直接通過顯示器進行調節和操作。它還提供直觀的標注、疊加和網絡工具，用戶可以更靈活地改進圖像記錄。這款新型的獨立式顯微鏡攝像頭可按照用戶需要的工作場所布...
全3D測量解決方案，Sneox五軸SensofarMetrology宣布在其**非接觸式3D表面測量系統中新增一款“五軸”。新型3D光學輪廓儀結合了高精度旋轉模塊和高分辨率平移平臺，以及先進的檢測和分析功能。這樣就可以在定義的位置（透視）進行自動3D表面測量，這些位置（透視）組合在一起可以創建完整的3D體積測量，非常適合微加工、增材制造、工具和醫療技術應用。新的“五軸”還集成了幾種特殊的采集模式，旨在補充和利用運動系統的功能。手動模式通過高精度定位測量單個視場（FOV），而網...
LeicaMicrosystems推出3D輪廓測量解決方案—DCM8LeicaMicrosystems推出了用于非破壞性三維輪廓測量的LeicaDCM8。該儀器是一款結合了共聚焦和干涉技術的光學輪廓儀，因此，能夠實現兩種技術的優勢：高清晰度共聚焦顯微鏡能實現較高的橫向分辨率，干涉技術能實現納米級的垂直分辨率。這兩種技術在眾多研究和生產環境中對材料和部件的輪廓分析都十分重要。結構錯綜復雜且具有高斜率區域的表面需要達到幾微米的橫向分辨率。相對而言，具有極小關鍵峰谷的極其光滑的拋光...
用于法醫鑒定應用的非接觸式光學輪廓儀法醫鑒定中的一項常見任務就是要將在**現場發現的**聯系到某一特定的**。通過槍筒內的來復線，在開槍過程中**上會留下擦痕印記。這些印記能提供詳細的信息，用于確定某個特定的**是否來自于某一嫌疑**。通常，經驗豐富的法醫會使用比較顯微鏡來客觀地確定未知的證據**和已知的試槍**之間的痕跡是否一致。為了增強這些結論的科學依據，位于美國亞拉巴馬州胡佛的阿拉巴馬州法庭科學部（ADFS）的研究者們應用了Sensofar（西班牙Terrassa）出產...
半導體和微電子行業概述–AlbertoAguerri訪談Sensofar的銷售副總裁AlbertoAguerri最近接受了AZONetwork編輯AdamKing的采訪，內容涉及半導體和微電子行業的光學計量解決方案。AZONetwork是一個在線平臺，提供與材料工程、光學、傳感器和納米技術、醫療、生命科學等相關的行業特定網站......您能否首先向我們的讀者簡要介紹一下Sensofar和公司的運營領域？Sensofar成立于2001年，在亞洲、歐洲和美國擁有龐大的全球足跡。該...