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技術文章
TECHNICAL ARTICLESSensofar3D輪廓儀提高質量控制過程效率的關鍵創新。這些創新帶來了更強大的測量能力、更全面的分析和改進的自動化。新功能新的技術進步：探索數碼變焦等新功能。性能*越，適用于大型設備：了解Swide3D掃描儀如何幫助您測量大型樣品和大型部件。該系統的關鍵方面是寬視角（FOV）、超快速數據采集、靈活的設置和集成的自動化工具。數據提取的可能性：了解S-Wide3D輪廓儀進行的各種測量，包括粗糙度、平面度、關鍵尺寸、GD&T和CAD比較。Swide3D輪廓測量儀在哪些方面至關重要...
掃描電鏡（ScanningElectronMicroscope,SEM）作為現代科學研究的重要工具，憑借其高分辨率、大景深和強大的綜合分析能力，在材料科學、生物學、醫學等領域發揮著不可替代的作用。本文將深入解析SEM的工作原理、核心優勢、應用場景及樣品制備要點，帶您全面了解這一微觀世界的“透視眼”。一、掃描電鏡（SEM）的工作原理與核心構造1.電子束與物質的相互作用掃描電鏡的核心原理基于高能電子束與樣品表面的相互作用。當電子槍發射的電子束經加速和聚焦后，以納米級直徑掃描樣品表...
PCB特性表征透孔鉆孔關于通孔，通孔安裝技術（THT）和表面貼裝技術（SMT）是將元件固定在印刷電路板上*常用的兩種方法。更確切地說，通孔安裝技術（THT）中使用通孔，這些通孔會貫穿印刷電路板的整個寬度。就表面貼裝技術（SMT）而言，盲孔僅會深入電路板一定深度，以便連接內部電路的不同層。Sensofar光學輪廓儀已多次被用于表征穿孔的生成方法以及電路板上的孔洞，以獲得精確且準確的結果。通孔的測量技術選擇是基于樣品的粗糙度來進行的，而盲孔則始終使用干涉儀進行測量。這種光學技術在...
在人工智能、半導體、新材料等前沿領域高速發展的今天，微觀檢測技術的精度直接決定了*端產業的突破速度。澤攸科技憑借自主研發的ZEM系列臺式掃描電鏡，以納米級成像能力與工業級實用性的雙重優勢，正成為國產*端儀器領域的標*產品，為AI芯片、生物醫藥、新能源等產業提供關鍵技術支持。一、技術突破：從實驗室到生產線的跨越傳統掃描電鏡因體積龐大、操作復雜、維護成本高昂等問題，長期受限于實驗室場景。澤攸科技通過電子光學系統自主創新與模塊化設計，推出*球*一款可規?；渴鸬呐_式掃描電鏡系列，實...
Sensofar共聚焦白光干涉儀作為一款在表面測量和分析領域廣泛應用的精密儀器，其高精度、多功能性和非接觸式測量的特點，使其在科研和工業領域展現出了廣泛的應用價值。以下是對其在不同領域應用的詳細探討：一、科研領域材料微觀結構研究Sensofar共聚焦白光干涉儀能夠分析材料的表面形貌，幫助科研人員深入了解材料的微觀結構、晶體取向等信息。這對于研究材料的物理和化學性質具有重要意義，例如研究金屬材料的疲勞裂紋萌生和擴展機制、新型半導體材料的生長機理等。納米材料表征在納米技術領域，對...
我們將使用SensoVIEW創建多個模板，實現完*自動化的采集與分析功能。使用以下樣本進行本教程，測量您在圖像中看到的凸塊的基礎半徑，以及計算這個凸塊的體積。在這種情形下我們將使用更高的放大倍數。當我們的模板都設置好，我們要前往“采集”屏幕，現在我們要做的是進行分析，模板化我們的測量方案，然后我們將進行MMR。一旦獲取完成，就會彈出進度窗口，它顯示了所有已分析的文件及其相應的模板，每個操作的進度及分析結果。使用SensoVIEW可以非?？焖俚卦O定關鍵尺寸。由于SensoVIE...
在精密測量的世界里，白光干涉儀猶如一顆璀璨的明珠，以其特殊的測量原理和廣泛的干涉測量技術應用，為眾多領域帶來了高精度的測量解決方案。白光干涉儀的測量原理基于光的干涉效應。當兩束或多束相干光疊加時，會產生干涉現象。該儀器通過分光鏡將白光分成兩束，一束作為參考光，另一束通過待測樣品。這兩束光在光路中傳播后，再經過反射等操作重新會合，由于它們在傳播過程中可能經歷了不同的光程，最終發生干涉。通過檢測干涉條紋的分布和變化，就可以計算出待測樣品表面的形貌、高度變化等信息。干涉測量技術在微...
如何用五軸測量一個刀削工具？我們做一個切割刀具比較，您可以看到五軸和這里的樣本位置。而在這里的實時圖像中，我們可以看到部分樣本。第一步：用五軸獲取圖像。我們為采集型貌設置良好的程序后，然后我們將移到五軸部分，設置我們需要的位置。這是一次收集的結果：軟件計算出旋轉和平移的角度，我們需要采集所有這些數據，因為在最后，我們要做一個型貌圖，然后移動旋轉，測量完成后，點擊合并按鈕，通過我們所取的坐標，便會呈現我們要的圖像。同時，通過Geomagic可提供生成圖像來進行自動分析橫截面，剖...